X-Ray pomiary grubości powłok

Aktualności

Szanowni Klienci,

Pragniemy poinformować Państwa o zakupie nowego spektrometru fluorescencji rentgenowskiej FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 230 do pomiaru grubości powłoki cynkowej producenta FISCHER.

Za pomocą promieni rentgenowskich jesteśmy w stanie bardzo precyzyjnie zmierzyć grubość warstwy cynku, a także zmierzyć parametry naszych kąpieli.

Aby uzyskać więcej informacji, skontaktuj się z nami pod adresem sales@galvan.cz